Die opto-elektronische Teststation NanoTest PIC HD erfüllt alle Anforderungen an die Charakterisierung photonischer integrierter Schaltkreise, wie beispielsweise Silicon-Photonics-Chips oder activer PICs.
Nadelkarten mit bis zu mehreren hundert Kontakten sorgen für die elektrische Verbindung bei den Gleichstrom- und Hochfrequenzmessungen.
Werkstückträger präsentieren die Bauteile für die Aufnahme durch den Greifer. Eine automatisierte Bildverarbeitung misst die jeweiligen Bauteile. Dies dient sowohl zur Positionierung als auch zur Qualifizierung, ob die Bauteile den Anforderungen entsprechen. Schon in diesem Schritt werden Bauteile aussortiert, die zu große Defekte aufweisen. Nach erfolgreicher Inspektion positioniert der Greifer das Bauteil präzise auf der Nadelkarte.
Ein Anpressmechanismus sorgt für das gleichmäßige Andrücken des Bauteils auf der Nadelkarte und damit für einen zuverlässigen elektrischen Kontakt. Gleichzeitig hält er das Bauteil während der Messung auf einer konstanten Temperatur.
Optional bietet NanoTest PIC HD eine integrierte Reinigungsstation für die Nadelkarte. Das Reinigungswerkzeug fährt behutsammit einem vorgegebenen Druck auf die Nadeln und führt einen programmierten Bewegungszyklus aus.
NanoTest PIC HD arbeitet entweder mit passivem präzisem Platzieren der Bauteile oder zusätzlich mit einer aktiven Justage auf maximale Kopplungseffizienz in Glasfasern oder Faser-Arrays.
Vorteile von NanoTest PIC HD
Komplette Charakterisierung für Gleichstrom- und Hochfrequenzwerte
Leistungsfähige Bildverarbeitung für optische Inspektion
Automatisierte Prozesse erlauben hohen Durchsatz
Einfache Anpassung an Bauteilgeometrien und Signalkonfigurationen
Geeignet für Waffle-Packs, Gelpacks oder kundenspezifische Werkstückträger
Großer Temperaturbereich
Arbeitet als Einzelstation oder in einer Produktionslinie integriert
Modulare Software
Das Softwarepaket TestMaster überwacht alle Funktionen des Prüfstandes und der Messabläufe. Zusätzliche Schnittstellen erlauben die Kommunikation mit anderen Programmiersprachen, um komplexe Testroutinen zu starten und Instrumentierung einzubinden. Eine lokale Datenbank speichert die Messwerte, alternativ lassen sich diese direkt in ein übergeordnetes System übertragen.
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