NanoTest_SiP3 NanoTest_SiP

Elektrischer/optischer Test SiP

Speziell für die Anforderungen von Bauteilen auf Basis von Silicon Photonics entwickelt, dient NanoTest SiP zur elektrischen und optischen Charaktierisierung auf Wafer-Ebene. Optional kann das System auch zum hochpräzisen Fügen verwendet werden.

 

 

Termine:

Kontakt

 
+49-6078-78254-0
 
 
 

Seite durchsuchen: